LRS-4 Mikro-Raman-Spektrometro
Iinstrumenta parametro:
Monokromatoro: 300mm fokusa distanco
Takso de 1,200 stangoj/mm
La ondolongo-intervalo estas 200–800nm
Fendo 0- -2mm estas kontinue alĝustigebla
Ondolonga precizeco: 0.2nm
Ripeteblo: 0.2nm
Lasero: ekscita ondolongo de 532nm
Elira potenco estas 100mW
Mikroskopa optika sistemo: senfina distala kromata diferenco-korekta sistemo kun minimuma mezurdiametro de 2 μm.
Objektivo: alt-okula punkto, grandkampa nivelo, kampopeco PL 10 X / 22mm, kun mikrometro
Objektivo: senfina distanca plata kampa duonkompleksa eŭkromata fluoreska objektivo (10X, 50, 100X)
Konvertilo: interna poziciiga kvin-trua konvertilo;
Fokusa alĝustiga mekanismo: malalta manpozicio malglata fajna agordo koakso, malglata alĝustiga bato 30mm, fajna agorda precizeco 0.002mm, elasta alĝustiga aparato kaj supra limo aparato, la alteco de la portanta krampogrupo alĝustigebla;
Platformo: 150mm 162mm duobla-tavola kompozita mekanika platformo, mova distanco 76mm 50mm, precizeco 0.1mm; X-aksa unu-traka transmisio; ceramika pentrado sur la supra platformo;
Lumiga sistemo: adaptiĝema 100V-240V larĝtensia, reflekta ĉambra lumilo, ununura altpotenca 5W altbrila LED-lumo, Kohler-lumigo, antaŭdifinita centro, kontinue alĝustigebla lumintenseco;
Fotilo: Ultra HD, 16-megapiksela
Produktaj trajtoj:
1, komputila kontrolo, monitora vida operacio, simpla operacio.
2, la minimuma mezurebla grandeco estas 2μ m, kiu povas detekti plurtavolajn materialojn.
3. Ondnombro / ondolongo estas du mezurmetodoj.
4. Detektebla kontraŭ-Stox-linio
5, la mezureblaj polarigaj ecoj de la Raman-spektroj
Aaplika areo:
1. Ssubstancanalizo: identigo, analizo kaj karakteriza mezurado de organika materio, neorganika materio, inkluzive de solviloj, benzino, karbona materio, filmo, ktp.
2. Analizo de medikamentoj: identigi kaj analizi ingrediencojn de medikamentoj, ŝlosilajn aldonaĵojn, plenigaĵojn kaj drogojn, ktp.
3. Manĝaĵdetekto: analizu la nesaturiĝon de grasacidoj en manĝaĵoleo, kaj detektu la poluaĵojn en manĝaĵoj, ktp.
4. Materiala analizo: analizo de duonkonduktaĵoj, arkeologio kaj geologio, ktp.
