LEEM-3 Aparato por Mapado de Elektra Kampo

Mallonga Priskribo:

En inĝenieristika teknologio, ofte necesas koni la distribuon de la elektra kampo de la elektroda sistemo por studi la movleĝon de elektronoj aŭ ŝargitaj partikloj en la elektra kampo. Ekzemple, por studi la fokuson kaj dekliniĝon de elektrona fasko en la osciloskopa tubo, necesas koni la distribuon de la elektra kampo de la elektrodo en la osciloskopa tubo. En la elektrona tubo, ni bezonas studi la influon de la enkonduko de novaj elektrodoj sur la movadon de elektronoj, kaj ni ankaŭ bezonas koni la distribuon de la elektra kampo. Ĝenerale parolante, por ekscii la distribuon de la elektra kampo, oni povas uzi analizajn metodojn kaj simulajn eksperimentajn metodojn. Sed nur en kelkaj simplaj kazoj oni povas akiri la distribuon de la elektra kampo per analiza metodo. Por ĝeneralaj aŭ kompleksaj elektrodaj sistemoj, ĝi kutime estas determinita per simulaj eksperimentoj. La malavantaĝo de la simulaj eksperimentaj metodoj estas, ke la precizeco ne estas alta, sed por ĝenerala inĝenieristika dezajno, ĝi povas plenumi la postulojn.